Leistungen
Description of first version of the system architecture
Report on fault injection and self-testing on a selected case study (draft)Benchmarking report for advanced dependability techniques
Report on proposed dependability evaluation techniques
Report on proposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on aproposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on proposed dependability enhancement techniques (draft)Veröffentlichungen
Autoren:
R. Cantoro, A. Firrincieli, D. Piumatti, M. Restifo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda
Veröffentlicht in:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2018
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Riccardo Cantoro, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero and Emanuele Valea
Veröffentlicht in:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2017
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
R. Cantoro, E. Cetrulo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, A. Voza
Veröffentlicht in:
2017 32nd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2017, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-5108-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DCIS.2017.8311634
Autoren:
Meß, J.-G. and Schmidt, R. and Fey, G., Dannemann, F.
Veröffentlicht in:
ESA International Workshop on Tracking, Telemetry and Command Systems for Space Applications, 2016
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Tino Flenker, Jan Malburg, Görschwin Fey, Serhiy Avramenko
Veröffentlicht in:
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
S. Carbonara, A. Firrincieli, M.Sonza Reorda, J.-G.Mess
Veröffentlicht in:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2018
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
R. Cantoro, S. Carbonara, A. Floridia, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, J.-G. Mess
Veröffentlicht in:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2018
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
J.-G. Mess, M. Sonza Reorda, M. Violante, F. Dannemann, B. Hanson, N. Karlsson, T. Kuremyr, S. Söderholm, Y. Albert, J. Spiecker
Veröffentlicht in:
Proceedings of the International Astronautical Congress (IAC) 2018, 2018
Herausgeber:
International Astronautical Confederation
Autoren:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G. and Meß, J.-G. and Schmidt, R.
Veröffentlicht in:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2016
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Jan-Gerd Mes, Robert Schmidt, Gorschwin Fey
Veröffentlicht in:
2017 IEEE Aerospace Conference, 2017, Seite(n) 1-12, ISBN 978-1-5090-1613-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/AERO.2017.7943580
Autoren:
Aydos, Gökçe and Fey, Görschwin
Veröffentlicht in:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2016
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G
Veröffentlicht in:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2016
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Serhiy Avramenko, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante, Görschwin Fey
Veröffentlicht in:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2017, ISSN 0923-8174
Herausgeber:
Kluwer Academic Publishers
Autoren:
Gökçe Aydos, Goerschwin Fey
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 48, 2017, Seite(n) 62-68, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.009
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