Rezultaty
Description of first version of the system architecture
Report on fault injection and self-testing on a selected case study (draft)Benchmarking report for advanced dependability techniques
Report on proposed dependability evaluation techniques
Report on proposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on aproposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on proposed dependability enhancement techniques (draft)Publikacje
Autorzy:
R. Cantoro, A. Firrincieli, D. Piumatti, M. Restifo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda
Opublikowane w:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2018
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Riccardo Cantoro, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero and Emanuele Valea
Opublikowane w:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2017
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
R. Cantoro, E. Cetrulo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, A. Voza
Opublikowane w:
2017 32nd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2017, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-5108-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/DCIS.2017.8311634
Autorzy:
Meß, J.-G. and Schmidt, R. and Fey, G., Dannemann, F.
Opublikowane w:
ESA International Workshop on Tracking, Telemetry and Command Systems for Space Applications, 2016
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Tino Flenker, Jan Malburg, Görschwin Fey, Serhiy Avramenko
Opublikowane w:
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
S. Carbonara, A. Firrincieli, M.Sonza Reorda, J.-G.Mess
Opublikowane w:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2018
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
R. Cantoro, S. Carbonara, A. Floridia, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, J.-G. Mess
Opublikowane w:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2018
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
J.-G. Mess, M. Sonza Reorda, M. Violante, F. Dannemann, B. Hanson, N. Karlsson, T. Kuremyr, S. Söderholm, Y. Albert, J. Spiecker
Opublikowane w:
Proceedings of the International Astronautical Congress (IAC) 2018, 2018
Wydawca:
International Astronautical Confederation
Autorzy:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G. and Meß, J.-G. and Schmidt, R.
Opublikowane w:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2016
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Jan-Gerd Mes, Robert Schmidt, Gorschwin Fey
Opublikowane w:
2017 IEEE Aerospace Conference, 2017, Strona(/y) 1-12, ISBN 978-1-5090-1613-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/AERO.2017.7943580
Autorzy:
Aydos, Gökçe and Fey, Görschwin
Opublikowane w:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2016
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G
Opublikowane w:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2016
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Serhiy Avramenko, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante, Görschwin Fey
Opublikowane w:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2017, ISSN 0923-8174
Wydawca:
Kluwer Academic Publishers
Autorzy:
Gökçe Aydos, Goerschwin Fey
Opublikowane w:
Microprocessors and Microsystems, Numer 48, 2017, Strona(/y) 62-68, ISSN 0141-9331
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.009
Wyszukiwanie danych OpenAIRE...
Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd
Brak wyników