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Massively extended Modular Monitoring for Upper Stages

CORDIS fournit des liens vers les livrables publics et les publications des projets HORIZON.

Les liens vers les livrables et les publications des projets du 7e PC, ainsi que les liens vers certains types de résultats spécifiques tels que les jeux de données et les logiciels, sont récupérés dynamiquement sur OpenAIRE .

Livrables

Publications

About On-line Functionally Untestable Fault Identification in Microprocessor Cores for Safety-Critical Applications

Auteurs: R. Cantoro, A. Firrincieli, D. Piumatti, M. Restifo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda
Publié dans: IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2018
Éditeur: IEEE

On the Optimization of SBST Test Program Compaction

Auteurs: Riccardo Cantoro, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero and Emanuele Valea
Publié dans: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2017
Éditeur: IEEE

Automated test program reordering for efficient SBST

Auteurs: R. Cantoro, E. Cetrulo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, A. Voza
Publié dans: 2017 32nd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2017, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5386-5108-7
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/DCIS.2017.8311634

On the Compression of Spacecraft Housekeeping Data using Discrete Cosine Transforms

Auteurs: Meß, J.-G. and Schmidt, R. and Fey, G., Dannemann, F.
Publié dans: ESA International Workshop on Tracking, Telemetry and Command Systems for Space Applications, 2016
Éditeur: IEEE

Towards Making Fault Injection on Abstract Models a More Accurate Tool for Predicting RT-Level Effects

Auteurs: Tino Flenker, Jan Malburg, Görschwin Fey, Serhiy Avramenko
Publié dans: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017
Éditeur: IEEE

On the test of a COTS-based system for space applications

Auteurs: S. Carbonara, A. Firrincieli, M.Sonza Reorda, J.-G.Mess
Publié dans: IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2018
Éditeur: IEEE

An analysis of test solutions for COTS-based systems in space applications

Auteurs: R. Cantoro, S. Carbonara, A. Floridia, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, J.-G. Mess
Publié dans: IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2018
Éditeur: IEEE

Massively Extended Modular Monitoring and a Second Life for Upper Stages

Auteurs: J.-G. Mess, M. Sonza Reorda, M. Violante, F. Dannemann, B. Hanson, N. Karlsson, T. Kuremyr, S. Söderholm, Y. Albert, J. Spiecker
Publié dans: Proceedings of the International Astronautical Congress (IAC) 2018, 2018
Éditeur: International Astronautical Confederation

On the robustness of compression algorithms for space applications

Auteurs: Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G. and Meß, J.-G. and Schmidt, R.
Publié dans: IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2016
Éditeur: IEEE

Adaptive compression schemes for housekeeping data

Auteurs: Jan-Gerd Mes, Robert Schmidt, Gorschwin Fey
Publié dans: 2017 IEEE Aerospace Conference, 2017, Page(s) 1-12, ISBN 978-1-5090-1613-6
Éditeur: IEEE
DOI: 10.1109/AERO.2017.7943580

Exploiting Error Detection Latency for Parity-based Soft Error Detection

Auteurs: Aydos, Gökçe and Fey, Görschwin
Publié dans: IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2016
Éditeur: IEEE

On the analysis of the effects of soft errors on compression algorithms

Auteurs: Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G
Publié dans: IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2016
Éditeur: IEEE

A High-Level Approach to Analyze the Effects of Soft Errors on Lossless Compression Algorithms

Auteurs: Serhiy Avramenko, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante, Görschwin Fey
Publié dans: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2017, ISSN 0923-8174
Éditeur: Kluwer Academic Publishers

Empirical results on parity-based soft error detection with software-based retry

Auteurs: Gökçe Aydos, Goerschwin Fey
Publié dans: Microprocessors and Microsystems, Numéro 48, 2017, Page(s) 62-68, ISSN 0141-9331
Éditeur: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.micpro.2016.09.009

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