Livrables
Description of first version of the system architecture
Report on fault injection and self-testing on a selected case study (draft)Benchmarking report for advanced dependability techniques
Report on proposed dependability evaluation techniques
Report on proposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on aproposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on proposed dependability enhancement techniques (draft)Publications
Auteurs:
R. Cantoro, A. Firrincieli, D. Piumatti, M. Restifo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda
Publié dans:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2018
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Riccardo Cantoro, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero and Emanuele Valea
Publié dans:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2017
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
R. Cantoro, E. Cetrulo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, A. Voza
Publié dans:
2017 32nd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2017, Page(s) 1-6, ISBN 978-1-5386-5108-7
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/DCIS.2017.8311634
Auteurs:
Meß, J.-G. and Schmidt, R. and Fey, G., Dannemann, F.
Publié dans:
ESA International Workshop on Tracking, Telemetry and Command Systems for Space Applications, 2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Tino Flenker, Jan Malburg, Görschwin Fey, Serhiy Avramenko
Publié dans:
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
S. Carbonara, A. Firrincieli, M.Sonza Reorda, J.-G.Mess
Publié dans:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2018
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
R. Cantoro, S. Carbonara, A. Floridia, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, J.-G. Mess
Publié dans:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2018
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
J.-G. Mess, M. Sonza Reorda, M. Violante, F. Dannemann, B. Hanson, N. Karlsson, T. Kuremyr, S. Söderholm, Y. Albert, J. Spiecker
Publié dans:
Proceedings of the International Astronautical Congress (IAC) 2018, 2018
Éditeur:
International Astronautical Confederation
Auteurs:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G. and Meß, J.-G. and Schmidt, R.
Publié dans:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Jan-Gerd Mes, Robert Schmidt, Gorschwin Fey
Publié dans:
2017 IEEE Aerospace Conference, 2017, Page(s) 1-12, ISBN 978-1-5090-1613-6
Éditeur:
IEEE
DOI:
10.1109/AERO.2017.7943580
Auteurs:
Aydos, Gökçe and Fey, Görschwin
Publié dans:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G
Publié dans:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2016
Éditeur:
IEEE
Auteurs:
Serhiy Avramenko, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante, Görschwin Fey
Publié dans:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2017, ISSN 0923-8174
Éditeur:
Kluwer Academic Publishers
Auteurs:
Gökçe Aydos, Goerschwin Fey
Publié dans:
Microprocessors and Microsystems, Numéro 48, 2017, Page(s) 62-68, ISSN 0141-9331
Éditeur:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.009
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