Risultati finali
Description of first version of the system architecture
Report on fault injection and self-testing on a selected case study (draft)Benchmarking report for advanced dependability techniques
Report on proposed dependability evaluation techniques
Report on proposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on aproposed dependability enhancement techniques (final with results)
Report on proposed dependability enhancement techniques (draft)Pubblicazioni
Autori:
R. Cantoro, A. Firrincieli, D. Piumatti, M. Restifo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda
Pubblicato in:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2018
Editore:
IEEE
Autori:
Riccardo Cantoro, Ernesto Sanchez, Matteo Sonza Reorda, Giovanni Squillero and Emanuele Valea
Pubblicato in:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2017
Editore:
IEEE
Autori:
R. Cantoro, E. Cetrulo, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, A. Voza
Pubblicato in:
2017 32nd Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2017, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-5108-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DCIS.2017.8311634
Autori:
Meß, J.-G. and Schmidt, R. and Fey, G., Dannemann, F.
Pubblicato in:
ESA International Workshop on Tracking, Telemetry and Command Systems for Space Applications, 2016
Editore:
IEEE
Autori:
Tino Flenker, Jan Malburg, Görschwin Fey, Serhiy Avramenko
Pubblicato in:
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2017
Editore:
IEEE
Autori:
S. Carbonara, A. Firrincieli, M.Sonza Reorda, J.-G.Mess
Pubblicato in:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2018
Editore:
IEEE
Autori:
R. Cantoro, S. Carbonara, A. Floridia, E. Sanchez, M. Sonza Reorda, J.-G. Mess
Pubblicato in:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC), 2018
Editore:
IEEE
Autori:
J.-G. Mess, M. Sonza Reorda, M. Violante, F. Dannemann, B. Hanson, N. Karlsson, T. Kuremyr, S. Söderholm, Y. Albert, J. Spiecker
Pubblicato in:
Proceedings of the International Astronautical Congress (IAC) 2018, 2018
Editore:
International Astronautical Confederation
Autori:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G. and Meß, J.-G. and Schmidt, R.
Pubblicato in:
IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2016
Editore:
IEEE
Autori:
Jan-Gerd Mes, Robert Schmidt, Gorschwin Fey
Pubblicato in:
2017 IEEE Aerospace Conference, 2017, Pagina/e 1-12, ISBN 978-1-5090-1613-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/AERO.2017.7943580
Autori:
Aydos, Gökçe and Fey, Görschwin
Pubblicato in:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2016
Editore:
IEEE
Autori:
Avramenko, S. and Sonza Reorda, M. and Violante, M. and Fey, G
Pubblicato in:
IEEE Latin American Test Symposium (LATS), 2016
Editore:
IEEE
Autori:
Serhiy Avramenko, Matteo Sonza Reorda, Massimo Violante, Görschwin Fey
Pubblicato in:
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2017, ISSN 0923-8174
Editore:
Kluwer Academic Publishers
Autori:
Gökçe Aydos, Goerschwin Fey
Pubblicato in:
Microprocessors and Microsystems, Numero 48, 2017, Pagina/e 62-68, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.009
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