Leistungen
List of air sampling equipments & List of environmental and individual monitoring devices
. List of air sampling equipments . List of environmental and individual monitoring devices
Identification of the most appropriate risk assessment methodologies (including gap analysis) for use in the semiconductor industry. Guidance on the use of risk assessment methodology for semiconductor industry (Combined deliverable T3.1 and T3.2).Assessment report: gaps identified about water and wastewater characterization
A list of nanomaterials currently used in the semiconductor sector to be considered within NANOSTREEM
Comparison of occupational exposure values
Recommendations for use of emission monitoring as a complement to risk banding
Report on establishment NanoStreeM Safety Community
Public Project factsheet
List of standards for air sampling, as applicable in semiconductor activity ; Gaps identified
. List of standards for air sampling, as applicable in semiconductor activity . Gaps identified
Gap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industryGap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industryGap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industry
A set of typical relevant exposure scenarios for NP’s in semiconductor industryFor nanomaterials listed in D1.1, a list of associated tasks, activities and operations where exposure might occur.
Public final project report
A list of nanomaterials that are of strategic importance for the semiconductor sector in the future
Workshop report
Veröffentlichungen
Autoren:
Jank, Michael; Heyns, Marc; Prodanov Dimiter,
Veröffentlicht in:
Ausgabe 1, 2019
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.2538649
Autoren:
Le Feber, Maaike; Prodanov, Dimiter; Zimmermann, Eric
Veröffentlicht in:
Ausgabe 2, 2017
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.1188143
Autoren:
Prodanov, Dimiter; Belde, Peter; Moclair, Fiona
Veröffentlicht in:
Ausgabe 3, 2018
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.2538388
Autoren:
Belde, Peter; Maillet, Jean-Christophe; Moclair, Fiona; Morelli, Atillio; Prodanov, Dimiter; Roquet, Pascal
Veröffentlicht in:
Ausgabe 3, 2017
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.804441
Autoren:
Belde, Peter; Durand, Catherine; Jank, Michael; Maillet, Jean-Christophe; Moclair, Fiona; Morelli, Atillio; Pook, Beatrix; Prodanov, Dimiter; Roquet, Pascal
Veröffentlicht in:
Ausgabe 1, 2016
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.804436
Autoren:
Michael Jank; Marc Heyns
Veröffentlicht in:
Ausgabe 2, 2017
Herausgeber:
-
DOI:
10.5281/zenodo.557082
Autoren:
Dimiter Prodanov
Veröffentlicht in:
Entropy, Ausgabe 20/7, 2018, Seite(n) 492, ISSN 1099-4300
Herausgeber:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/e20070492
Autoren:
Dimiter Prodanov
Veröffentlicht in:
Biomedical Reviews, Ausgabe 28/0, 2018, Seite(n) 100, ISSN 1310-392X
Herausgeber:
Bulgarian-American Center
DOI:
10.14748/bmr.v28.4455
Autoren:
Nausikaä Van Hoornick, Dimiter Prodanov, Alain Pardon
Veröffentlicht in:
Journal of Physics: Conference Series, Ausgabe 838, 2017, Seite(n) 012017, ISSN 1742-6588
Herausgeber:
Institute of Physics
DOI:
10.1088/1742-6596/838/1/012017
Autoren:
Jank, Michael; Bauer, Anton; Frey, Lothar
Veröffentlicht in:
Fraunhofer IISB, Ausgabe 3, 2016
Herausgeber:
-
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