Opis projektu
Wykorzystanie potencjału precyzyjnego projektowania produktów
Opracowywanie produktów, które opierają się na skomplikowanych systemach materiałowych i strukturach w nanoskali, takich jak ogniwa słoneczne trzeciej generacji, zawsze stanowiło wyzwanie. Właściwości elektroniczne półprzewodników objętościowych, kluczowe dla tych produktów, często przyćmiewają lub zniekształcają złożone właściwości interfejsu materiału, co komplikuje proces projektowania. W związku z tym zespół finansowanego ze środków UE projektu MMAMA zamierza przeobrazić europejski przemysł wytwórczy. Wykorzystując potencjał skaningowych mikroskopów mikrofalowych, rezonatorów dielektrycznych i zaawansowanych symulacji, stara się zmierzyć i zrozumieć właściwości materiałów i interfejsów złożonych systemów materiałowych i nanostruktur. Technika ta dostarczy ważnych informacji, które pozwolą na opracowanie opłacalnych procesów projektowania. Ponadto otwarte środowisko innowacyjne projektu ułatwi przyjęcie ich w europejskim środowisku przemysłowym.
Cel
Products which require complicated material systems and nanoscale structural organization, e.g. third-generation solar cells, are often difficult to develop. This is because electronic properties of bulk semiconductors are often masked or at least strongly superimposed by material interface properties. Additionally these interface properties are also complex and thus make product design difficult.
This project aims at solving this problem by offering a nanoscale characterization platform for the European manufacturers of coatings, photovoltaic cells, and semi-conductor circuits. It is proposed to use a combination of scanning microwave microscopes, dielectric resonators, and simulation to measure the material and interface properties of complicated material systems and nano-structures. A metrological system of cross-checks between different instruments, models and simulations with associated error bars is indispensable for obtaining trustworthy results.
Scanning microwave measurements will be directly used for three-dimensional characterization of electrical properties of nanostructured semiconductors used in organic and hybrid photovoltaic cells. The objective is to accelerate the development of high efficiency cells and to have measures to predict performances in early stages of prototype production. Where process monitoring of materials with nanostructures is necessary, a dielectric resonator is used to translate insights from scanning microwave microscope measurements to fabrication environments. Such dielectric resonators could be directly integrated in production lines for monitoring thin film deposition processes.
An open innovation environment will make the uptake of the results easier for European industry. A database containing exemplary measurement datasets of scanning microwave microscopes will be available in calibrated and raw versions. Simulation results of tip-semiconductor interactions will be made available on the EMMC Modeling Market Place.
Dziedzina nauki
- natural scienceschemical sciencesorganic chemistry
- engineering and technologymaterials engineeringcomposites
- natural sciencesphysical sciencesopticsmicroscopy
- engineering and technologymaterials engineeringcoating and films
- natural sciencesphysical scienceselectromagnetism and electronicssemiconductivity
Program(-y)
Temat(-y)
Zaproszenie do składania wniosków
Zobacz inne projekty w ramach tego zaproszeniaSzczegółowe działanie
H2020-NMBP-2017-two-stage
System finansowania
RIA - Research and Innovation actionKoordynator
59000 Lille
Francja