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Publicaciones
Autores:
F. Chan Wai Po, R. Abdaoui, A. Giry
Publicado en:
2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016, Página(s) 492-495, ISBN 978-1-5090-6113-6
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ICECS.2016.7841246
Autores:
Pierre Ferris, Gauthier Tant, Alexandre Giry, J. D. Arnould, J. M. Fournier
Publicado en:
2016 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC), 2016, Página(s) 254-257, ISBN 978-1-4673-8651-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/RFIC.2016.7508299
Autores:
Dominique Nicolas, Alexandre Giry, Essia Ben Abdallah, Serge Bories, Thierry Parra, Christophe Delaveaud, Pierre Vincent
Publicado en:
2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2016, Página(s) 1-4, ISBN 978-1-5090-0698-4
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/MWSYM.2016.7538835
Autores:
D. Nicolas, A. Serhan , P. Ferris, A. Giry, T. Parra
Publicado en:
Journées Nationales Micro-ondes, Edición Mai, 2017
Editor:
Journées Nationales Micro-ondes
Autores:
D. Nicolas, A. Serhan, A. Giry, T. Parra, E. Mercier
Publicado en:
2017 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC), 2017, Página(s) 15-18, ISBN 978-1-5090-4626-3
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/RFIC.2017.7969005
Autores:
A. Giry, A. Serhan, P. Ferris
Publicado en:
2017
Editor:
IEEE
Autores:
Saad Boutayeb, Alexandre Giry, Ayssar Serhan, Jean-Daniel Arnould, Estelle Lauga-Larroze
Publicado en:
2017 13th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2017, Página(s) 41-44, ISBN 978-1-5090-6508-0
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/PRIME.2017.7974102
Autores:
A. Giry
Publicado en:
Edición Mars, 2017
Editor:
GDR Ondes - GT4
Autores:
S. Boutayeb
Publicado en:
Edición Mars, 2017
Editor:
GDR Ondes - GT4
Autores:
Ayssar Serhan, Pierre Ferris, Alexandre Giry
Publicado en:
2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2016, Página(s) 488-491, ISBN 978-1-5090-6113-6
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ICECS.2016.7841245
Autores:
Yeghoyan Taguhi, Alassaad Kassem, McMitchell Sean R.C., Gutierrez Marina, Souliere Véronique, Araujo Daniel, Ferro Gabriel
Publicado en:
Materials Science Forum, Edición Vol. 924, 2018, Página(s) 128-131
Editor:
Trans Tech Publications
Autores:
T. YEGHOYAN, K. ALASSAAD, V. SOULIERE, G. FERRO
Publicado en:
Materials Science Forum, Edición Vol. 897, 2017, Página(s) 87-90
Editor:
Trans tech publications
Autores:
Lei Zhu, Shuangke Liu, F. Allibert, E. Desbonnets, I. Radu, Xinen Zhu, Yumin Lu
Publicado en:
2016 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA), 2016, Página(s) 1-2, ISBN 978-1-4673-9478-9
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/VLSI-TSA.2016.7480530
Autores:
Yao Liu, Giovanni Mangraviti, Shinya Hitomi, Khaled Khalaf, Bjorn Debaillie, Piet Wambacq
Publicado en:
2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), Edición Date of Conference: 15-18 Oct. 2018, 2018, Página(s) 1-3, ISBN 978-1-5386-7627-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/s3s.2018.8640209
Autores:
Ionut Radu, Eric Desbonnets, Manuel Sellier, Christophe Didier
Publicado en:
2018 29th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), Edición Date of Conference: 30 April-3 May 2018, 2018, Página(s) 143-147, ISBN 978-1-5386-3748-7
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/asmc.2018.8373174
Autores:
Oleg Kononchuk, Didier Landru, Damien Massy, Nadia Ben Mohamed, Youngpil Kim, Pablo Acosta-Alba and François Rieutord
Publicado en:
236th ECS meetings, Edición Oct 3rd 2018, 2018
Editor:
© 2018 ECS - The Electrochemical Society
Autores:
Manuel Sellier
Publicado en:
ECS Transactions, Edición 85/8, 2018, Página(s) 3-13, ISSN 1938-5862
Editor:
Electrochemical Society, Inc.
DOI:
10.1149/08508.0003ecst
Autores:
Lei Zhu, Shuangke Liu, Frederic Allibert, Ionut Radu, Xinen Zhu, Yumin Lu, Xi Wang
Publicado en:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Edición 28/5, 2018, Página(s) 377-379, ISSN 1531-1309
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/lmwc.2018.2813884
Autores:
Babak Kazemi Esfeh, Martin Rack, Khaled Ben Ali, Frederic Allibert, Jean-Pierre Raskin
Publicado en:
IEEE Transactions on Electron Devices, Edición 65/8, 2018, Página(s) 3120-3126, ISSN 0018-9383
Editor:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2018.2845679
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