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Resultado final
First Benchmarking report
Public final evaluation results
o Censored version of deliverable D3.5, that can be published
Final Public Demonstrator ResultsShortened version of summary of the performance of all demonstrators to be published outside the consortium
Publicaciones
Autores:
ADMIEC
Publicado en:
Press Release, 2016
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor
Publicado en:
2017
Editor:
-
Autores:
Pierre Boulenc, Linkun Wu, Vasyl Motsnyi, David San Segundo Bello, Luc Haspeslagh, Stefano Guerrieri, Maarten Rosmeulen, Jonathan Borremans, Piet De Moor
Publicado en:
2017
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor, Paul Goetschalckx, Jonathan Borremans, Maarten Rosmeulen, Luc Haspeslagh, Andy Lambrechts
Publicado en:
2016
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor
Publicado en:
2017
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
P. De Moor, Paul Goetschalckx, Maarten Rosmeulen, Luc Haspeslagh, David San Segundo Bello, Pierre Boulenc, Steven Thijs, Stefano Guerrieri
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor
Publicado en:
2015
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor et al
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
David San Segundo Bello, Pierre Boulenc, Linkun Wu, Vasyl Motsnyi, Luc Haspeslagh, Stefano Guerrieri, Maarten Rosmeulen, Jonathan Borremans, Piet De Moor
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
-
Publicado en:
2015
Editor:
-
Autores:
-
Publicado en:
2018
Editor:
-
Autores:
Piet De Moor et al.
Publicado en:
Advanced Concepts for Intelligent Vision Systems, 2015
Editor:
Springer
Autores:
Albert Theuwissen
Publicado en:
6th Fraunhofer CMOS Image Sensor workshop, 2016
Editor:
Fraunhofer
Autores:
Albert Theuwissen
Publicado en:
Norwegian Electro-Optical meeting, 2016
Editor:
Norwegian Electro-Optical Society
Autores:
Albert Theuwissen
Publicado en:
ISSCC, 2016
Editor:
IEEE
Autores:
Albert Theuwissen
Publicado en:
Workshop Smart Sensors, Delft University of Technology, 2016
Editor:
Delft University
Autores:
Nanda van der Stap et al.
Publicado en:
24th International Congress of the European Association of Endoscopic Surgery, 2016
Editor:
TNO
Autores:
Fokko P. Wieringa
Publicado en:
2016
Editor:
TNO
Autores:
Jonathan Borremans
Publicado en:
SPIE Industry Events at SPIE defense and commercial sensing, 2016
Editor:
SPIE
Autores:
JU ECSEL office with input from Piet De Moor, IMEC
Publicado en:
European Nanoelectronics Forum, 2015
Editor:
European Commission
Autores:
Jerome Baron
Publicado en:
SPIE Industry Events at SPIE defense and commercial sensing, 2016
Editor:
SPIE
Autores:
David San Segundo Bello, Maarten De Bock, Pierre Boulenc, Roeland Vandebriel, Linkun Wu, Jan Van Olmen, Vezio Malandruccolo, Jan Craninckx, Luc Haspeslagh, Stefano Guerrieri, Maarten Rosmeulen, Jonathan Borremans
Publicado en:
International Image Sensor Workshop 2017, 2017, Página(s) 129-132
Editor:
-
Autores:
P. Boulenc, J. Robbelein, Linkun Wu, L. Haspeslagh, P. De Moor, J. Borremans, M. Rosmeulen
Publicado en:
International Conference on Space Optics — ICSO 2016, 2017, Página(s) 152, ISBN 9781-510616141
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2296149
Autores:
Pierre Boulenc, Jo Robbelein, Linkun Wu, Vasyl Motsnyi, Luc Haspeslagh, Stefano Guerrieri, Jonathan Borremans, Maarten Rosmeulen
Publicado en:
International Image Sensor Workshop 2017, 2017, Página(s) 364-367
Editor:
-
Autores:
Piet Bijl, Maarten A. Hogervorst
Publicado en:
Electro-Optical and Infrared Systems: Technology and Applications XIII, Edición 9987, 2016, Página(s) 99870P
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2242262
Autores:
Piet Bijl, Maarten A. Hogervorst, Alexander Toet
Publicado en:
Infrared Imaging Systems: Design, Analysis, Modeling, and Testing XXVIII, Edición 10178, 2017, Página(s) 101780U
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.2266788
Autores:
Pierre Boulenc, Jo Robbelein, Linkun Wu, Luc Haspeslagh, Piet De Moor, Jonathan Borremans, Maarten Rosmeulen
Publicado en:
International Conference on Space Optics 2016 proceedings, Edición Every 2 years, 2016
Editor:
CNES / ESA
Autores:
Ljubomir Jovanov, Wilfried Philips, Klaas Jan Damstra, Frank Ellenbroek,
Publicado en:
Applications of Digital Image Processing XL, Proceedings of SPIE Vol. 10396, 2017, Página(s) 10396-2, ISBN 9781-510612495
Editor:
SPIE
Autores:
C. Cavaco, L. Peng, S. Lavizzari, J. Claes, N. V. Hoovels, S. Guerrieri, D. S. Tezcan, and H. Osman
Publicado en:
ECS Transastions 2016, Edición volume 75, issue 7, 2016, Página(s) 43-46
Editor:
ECS transactions
Autores:
Chenglin Zuo, Ljubomir Jovanov, Hiep Quang Luong, Bart Goossens, Wilfried Philips, Yu Liu, Maojun Zhang
Publicado en:
2015 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), 2015, Página(s) 1618-1622, ISBN 978-1-4799-8339-1
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ICIP.2015.7351074
Autores:
Shopovska, I. and Jovanov, L. and Goossens, B. and Philips, W.
Publicado en:
Applications of Digital Image Processing XXXIX, Proceedings of SPIE Vol. 9971, 2016
Editor:
SPIE
Autores:
Pierre-Jean Lapray, Jean-Baptiste Thomas, Pierre Gouton
Publicado en:
Sensors, Edición 17/6, 2017, Página(s) 1281, ISSN 1424-8220
Editor:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/s17061281
Autores:
Pierre-Jean Lapray, Jean-Baptiste Thomas, Pierre Gouton, Yassine Ruichek
Publicado en:
Journal of the European Optical Society-Rapid Publications, Edición 13/1, 2017, ISSN 1990-2573
Editor:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1186/s41476-016-0031-7
Autores:
C. Cavaco, L. Peng, S. Lavizzari, J. Claes, N. V. Hoovels, S. Guerrieri, D. S. Tezcan, H. Osman
Publicado en:
ECS Transactions, Edición 75/7, 2016, Página(s) 43-46, ISSN 1938-5862
Editor:
Electrochemical Society, Inc.
DOI:
10.1149/07507.0043ecst
Autores:
Benhur Ortiz-Jaramillo, Jorge Niño-Castañeda, Ljiljana Platiša, Wilfried Philips
Publicado en:
Journal of Electronic Imaging, Edición 25/1, 2016, Página(s) 013011, ISSN 1017-9909
Editor:
S P I E - International Society for Optical Engineering
DOI:
10.1117/1.JEI.25.1.013011
Autores:
Ljubomir Jovanov, Hiep Luong, Wilfried Philips
Publicado en:
SID Symposium Digest of Technical Papers, Edición 46/S1, 2015, Página(s) 35-35, ISSN 0097-966X
Editor:
Society for Information Display-SID
DOI:
10.1002/sdtp.10572
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