Skip to main content
European Commission logo
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS
CORDIS Web 30th anniversary CORDIS Web 30th anniversary
Zawartość zarchiwizowana w dniu 2024-06-18

Multi-functional Analytical Focussed ion beam tool for nanotechnology

Article Category

Article available in the following languages:

Mikroobrazowanie, analiza i obróbka w jednym urządzeniu

Naukowcy opracowali wielofunkcyjne narzędzie, umożliwiające równoczesną wizualizację, analizowanie i manipulowanie materiałami o rozmiarach na poziomie cząsteczkowym. Narzędzie będzie niezastąpione przy opracowywaniu urządzeń miniaturowych.

Nanotechnologię można określić jako inżynierię układów funkcjonalnych o wielkości atomów i cząsteczek. Aby zapewnić postępy w tej dziedzinie, naukowcy muszą mieć możliwość oglądania i kontrolowania nanomateriałów oraz manipulowania nimi. Elektronowe mikroskopy skaningowe (SEM), w których do oświetlenia obiektu używana jest wiązka elektronów, są stosowane już od wielu lat. Ta technologia umożliwia naukowcom oglądanie obiektów w nanoskali, które są niewidoczne w mikroskopach optycznych. Pozwala ona uzyskać wysoką rozdzielczość oraz dużą głębię ostrości i umożliwia mikroanalizę. W ostatnim czasie na rynku pojawiły się skaningowe mikroskopy jonowe (FIB) z możliwością obrazowania i mikroobróbki w skali nanometrycznej. Instrumenty FIB są zbliżone do instrumentów SEM, jednak zamiast wiązki elektronów zastosowano w nich wiązkę jonową (wiązkę naładowanych cząsteczek uzyskanych dzięki usunięciu elektronów z atomów neutralnych). Otwierają one drogę do badań nad materiałami elementarnymi oraz do zastosowań technologicznych, które wcześniej nie były możliwe. Często są zintegrowane z kolumnami SEM w celu uzyskania wszechstronnej platformy FIB (SEM) z użyciem dwóch wiązek. Europejscy naukowcy posunęli tę technologię o krok dalej, dzięki zintegrowaniu dwuwiązkowego instrumentu FIB (SEM) z hybrydowym mikroskopem ze skanującą sondą (SPM). Technologia FIB umożliwia mikrostrukturyzację oraz modyfikowanie powierzchni w nanoskali. Technologia SEM umożliwia zarówno analizę chemiczną, jak i strukturalną. Połączenie technologii SEM i SPM ułatwia obrazowanie chemiczne i krystalograficzne w nanoskali. Finansowany przez UE projekt Fiblys ("Multifunctional analytical focused ion beam tool for nanotechnology") umożliwił badaczom opracowanie naprawdę wyjątkowego instrumentu do nanostrukturyzacji, nanomanipulacji i nanoanalizy. Końcowy prototyp instrumentu Fiblys z uzupełniającymi się elementami technologii SEM, FIB, SPM oraz kilkoma technikami analitycznymi otwiera tym samym nanotechnologiczne możliwości, których nie oferował wcześniej żaden inny instrument. Innowacyjne rozwiązania, możliwe dzięki technologii Fiblys, powinny ułatwić projektowanie zupełnie nowych produktów i procesów związanych z nanotechnologią. System Fiblys z pewnością stanie się niezastąpionym narzędziem do zastosowań w nanotechnologii badawczej i przemysłowej w różnych dziedzinach, w tym w biotechnologii, optoelektronice i czujnikach.

Znajdź inne artykuły w tej samej dziedzinie zastosowania