Skip to main content
European Commission logo
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS
CORDIS Web 30th anniversary CORDIS Web 30th anniversary
Zawartość zarchiwizowana w dniu 2024-05-27

Advanced laser sensor systems for leading edge manufacturing

Article Category

Article available in the following languages:

Optyczne diagnostyka gazów z zastosowaniem przestrajalnych laserów diodowych

Produkcja półprzewodników staje się coraz droższa, dlatego uzyskanie korzystnego zwrotu z tak kosztownej inwestycji wymaga krótszych czasów przetwarzania oraz większej wydajności procesu produkcji. Mając na celu lepszą kontrolę nad procesem wytwarzania, konsorcjum ASSYST zbadało możliwości czujników optycznych jako narzędzi do monitoringu.

Technologie przemysłowe icon Technologie przemysłowe

W ostatnich latach poczyniono znaczne postępy w dziedzinie półprzewodnikowych laserów świecących w bliskiej podczerwieni. Znajdują one zastosowanie jako źródła światła w telekomunikacji i w bardzo szybkich zintegrowanych sieciach komputerowych, a także w optycznych pamięciach masowych. Ponadto mały rozmiar i modułowa elastyczność przestrajalnych laserów diodowych przetarły szlak dla nowej generacji kompaktowych i niezawodnych czujników gazu. Molekularna spektroskopia absorpcyjna w bliskiej podczerwieni jest jedną z dziedzin, w której najszybciej rozwija się zastosowanie przestrajalnych laserów diodowych. Pierwsze czujniki optyczne działające na zasadzie spektroskopii opartej na przestrajalnych laserach diodowych powstawały dzięki badaniom naukowym. Ostatnio naukowcy z Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik w Niemczech postanowili rozszerzyć zastosowanie laserowych czujników optycznych, dotąd używanych do monitoringu skażeń powietrza, i wykorzystać je w procesach przemysłowych. Wraz z rosnącą złożonością procesu wytwarzania przyrządów półprzewodników kluczowego znaczenia w jego kontroli nabiera analiza czystości gazów na bieżąco. Spektrometr optyczny opracowany w toku projektu ASSYST jest atrakcyjnym rozwiązaniem, alternatywnym do konwencjonalnych metodologii kontroli opartych na monitorowaniu ciśnienia w komorze, przepływu gazu oraz energii wysłanej i odbitej. Wykrywanie ważnych aspektów procesu wytwarzania półprzewodników przy użyciu metodologii kontroli bezpośredniej bywa zawodne, natomiast ten spektrometr działający w bliskiej podczerwieni zapewnia nadzwyczajną czułość na obecność tlenu i par. Jego konstrukcja nie tylko umożliwia wykrywanie tlenu pochodzącego z rozpadu wody lub powstającego na skutek odgazowywania ze ścian komór obróbki próżniowej, ale też mierzenie śladowych ilości gazów zanieczyszczających, na przykład siarkowodoru (H2S). Ponadto modułowa budowa zespołu spektrometru umożliwia dobór szeregu podzespołów spektroskopowych i poprawienie sprawności systemu, gdy tego wymaga konkretne zastosowanie.

Znajdź inne artykuły w tej samej dziedzinie zastosowania